泰克聚焦大數(shù)據(jù)和工業(yè)4.0時代測試測量技術(shù)及解決方案

更新時間：2015-05-25 閱讀：2500

泰克2015年度創(chuàng)新論壇啟動，聚焦大數(shù)據(jù)和工業(yè)4.0時代測試測量技術(shù)及解決方案

泰克公司日前宣布，泰克2015年度創(chuàng)新論壇(TIF)，本屆TIF將與業(yè)界工程師共同分享泰克的產(chǎn)品突破以及滿足大數(shù)據(jù)時代以能運算為核心的多種工業(yè)標準規(guī)范的測試方案。論壇現(xiàn)場還設(shè)立了12個展位，讓與會者參觀、調(diào)試泰克各種測試測量解決方案和產(chǎn)品。

移動智能設(shè)備和云數(shù)據(jù)處理迅猛發(fā)展，特別是工業(yè)4.0時代的到來，使得云計算、云存儲、移動互聯(lián)網(wǎng)、智能硬件、多媒體高清顯示設(shè)備等熱門技術(shù)迅速普及，為新一輪的設(shè)計和測試測量技術(shù)帶來了革新與挑戰(zhàn)。為此，本屆創(chuàng)新論壇以“自主創(chuàng)新，工業(yè)4.0時代的測試測量"為主題，用十多個熱點專題與與會者深度探討工業(yè)4.0時代將帶來的測試測量挑戰(zhàn)與應(yīng)對之道。“如何更加的解決工業(yè)4.0核心技術(shù)互聯(lián)互通的測試問題，對工程師來說顯得非常迫切和必要。"泰克公司大中華區(qū)市場總監(jiān)徐贇指出，“泰克公司一直致力于應(yīng)對工業(yè)發(fā)展中的各種測試挑戰(zhàn)，擁有業(yè)界、創(chuàng)新型的綜合測試解決方案，能幫助工程師地解決各種挑戰(zhàn)。本次TIF四地研討會主題豐富，將幫助中國工程師提前為應(yīng)對工業(yè)4.0時代的測試測量挑戰(zhàn)做好準備。"

DPO70000SX系列示波器以顛覆性架構(gòu)定義示波器新境界
在本屆TIF上，泰克公司也將攜劃時代的DPO70000SX系列示波器亮相各大會場，由專家介紹DPO70000SX的技術(shù)異步時序交織(ATI)是如何實現(xiàn)傲視業(yè)界的低噪聲、高保真的信號實時采集，并分享DPO70000SX是如何應(yīng)用于超寬帶、相干光、前沿研究、雷達及高速串行數(shù)據(jù)通信等相關(guān)的測試領(lǐng)域。

迎接USB3.1時代的變化與挑戰(zhàn)
通用串行總線 (USB) 已經(jīng)成長為很多嵌入式行業(yè)、汽車和消費應(yīng)用中的常用接口。以往的USB 2.0 工作于480 Mb/s，而現(xiàn)行的USB 3.1 將數(shù)據(jù)速率提升了20倍、高達10Gb/s，這給工程師帶來了全新的檢定和驗證挑戰(zhàn)。本屆TIF上，泰克將關(guān)注該主題的四個重點方面：USB 3.1和3.0之間的物理層差異；10 Gb/s通道定義和抖動預(yù)算；USB Type-C連接器測試概述；新的128b/132b編碼方式及其對測試解決方案的影響。

加速多媒體高清設(shè)備標準的測試
移動多媒體平臺的高速發(fā)展一系列顯示技術(shù)的革命，因此多媒體高清設(shè)備接口測試也將是本屆TIF關(guān)注的一個重點。論壇現(xiàn)場，泰克專家將介紹與HDMI2.0、DisplayPort1.2/1.3相關(guān)的顯示接口標準的發(fā)展、測試要點和挑戰(zhàn)，以及如何使用泰克的測試方案加速驗證周期。

十四個專題，測試測量熱點全覆蓋
“在本屆TIF研討會上，北京、西安和上海站我們安排了A、B兩個會場，以滿足工程師對不同測試技術(shù)與方案的需求。并根據(jù)各地工程師的實際需求，論壇專題演講安排有所側(cè)重。" 徐贇介紹道。據(jù)悉，除上述論壇主題外，DDR4的標準更新及測試方案、泰克混合域示波器動手實用技能課程、泰克射頻創(chuàng)新解決方案、可穿戴設(shè)備耗電測試、泰克智能實驗室、信號完整性分析及一致性測試，以及覆蓋至V波段的超寬帶信號仿真及測試、克服先進顯示材料的測量挑和工業(yè)4.0時代的互聯(lián)互通測試解決方案，共十四個專題內(nèi)容涵蓋了當(dāng)前測試測量的主要熱點。“泰克的年度創(chuàng)新論壇一直是工程師了解測試測量技術(shù)發(fā)展現(xiàn)狀與趨勢的年度盛會，今年我們將繼續(xù)為與會者帶來一場測試測量技術(shù)的饕餮盛宴！"徐贇表示。

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